en-gb

Стойкость 2019

С 4 по 5 июня 2019 года в городе Лыткарино (Московская обл.) прошла Всероссийская научно-техническая конференция "Радиационная стойкость электронных систем" (Стойкость 2019). На данном мероприятии ссотрудников филиала АО "ОРКК" - "НИИ КП" представили следующие доклады в качестве авторов и соавторов:


Устные доклады:


-В.С. Анашин, Г.А. Протопопов, П.А. Чубунов, А.Е. Козюков «Достоверность результатов испытаний ЭКБ на стойкость к воздействию ИИ КП и риск сокращения САС РЭА КА»;

- А.А. Калашникова1, П.А. Чубунов1, С.А. Яковлев1, А.Е. Козюков1, Р.Р. Мангушев1, А.В. Нилов1, А.А. Дрокин1, А.А. Малова1, Д.В. Сидоров2, В.Ф. Синкевич2, П.А. Дюканов2, С.В. Корнеев2, В.С. Паньков2, Л.В. Шеломенцев2 «Анализ катастрофических отказов биполярных операционных усилителей при воздействии ТЗЧ»

1Филиал АО «ОРКК» - «НИИ КП», 2АО «НПП «Пульсар»

- А.С. Бычков, А.С. Козюков, В.Т. Гаврилов «Актуальные вопросы эксплуатации испытательных стендов контроля стойкости ЭКБ к воздействию ТЗЧ КП»

- Д.А. Амерканов1, Г.И. Горкин1, Е.М. Иванов1, С.В. Косьянеко1, О.В. Лобанов1, В.Г. Муратов1, В.В. Пашук1, О.А. Щербаков1, В.А. Тонких1, А.С. Воробьев1, В.С. Анашин2, П.А. Чубунов2 - «Приборная база систем диагностики и транспортировки протонного и нейтронного пучка для радиационных испытаний электроники на синхроциклотроне 1000 МэВ НИЦ КИ ПИЯФ»

1НИЦ «Курчатовский институт» – ПИЯФ, 2Филиал АО «ОРКК» - «НИИ КП»

А.С. Петров1, С.К. Труфанов1, М.С. Мальцева2, Т.А. Максименко2, А.Е. Козюков2 - «Влияние предварительного гамма-облучения на стойкость к электростатическому разряду мощных n-МОП транзисторов»

1АО «НИИП», 2Филиал АО «ОРКК» - «НИИ КП»


Стендовые доклады:

-М.И. Арзамасцев1, А.И. Яньков1, Л.Р. Арутюнян2 «Результаты испытаний на воздействие ТЗЧ высокопроизводительного 16-разрядного микроконтроллера 1874ВЕ10Т»

1АО «НИИЭТ», 2Филиал АО «ОРКК» - «НИИ КП»

-Е.В. Митин1, П.Ю. Громов1, А.Н. Аскерко2, А.Е. Козюков3, И.А. Волков4, А.И. Лоскот5 «Опыт испытаний DC-DC-конвертеров отечественного производства на стойкость к воздействию ТЗЧ на примере преобразователей типа ВР24-6-5/1»

1ООО «НПЦ «Гранат», 2 АО «НПЦ «ЭлТест», 3 Филиал АО «ОРКК» - «НИИ КП», 4 ООО «ММП-Ирбис», 5ВКА им. А.Ф. Можайского

-Е.В. Митин1, П.Ю. Громов1, А.Е. Козюков2 «Телеграфный шум в подзатворном диэлектрике МОП-транзисторов, облученных тяжелыми ионами»

1ООО «НПЦ «Гранат», 2Филиал АО «ОРКК» - «НИИ КП»

- И.А. Ляхов, Г.А. Протопопов, В.С. Анашин «Актуализированный программный комплекс для расчета поглощенной дозы за защитой из произвольного материала»

- И.А. Ляхов, Г.А. Протопопов, В.С. Анашин «Актуализированный программный комплекс для интерпретации результатов испытаний ЭКБ на стойкость к воздействию ТЗЧ КП»

- В.С. Анашин, Г.А. Протопопов, П.А. Чубунов, А.Е. Козюков «Факторы недостоверности подтверждения характеристик стойкости ЭКБ к воздействию ИИ КП»

- В.С. Анашин, Г.А. Протопопов, Е.А. Бондарев «Проблемы использования летного опыта для подтверждения требуемого САС и ВБР РЭА КА»

- В.А. Юшкова, Г.А. Протопопов, К.Б. Бу-Хасан «Результаты анализа данных испытаний по влиянию рабочих напряжений на стойкость мощных МОП транзисторов и линейных аналоговых схем к воздействию ТЗЧ КП»

- О.В.Косова, Н.А. Панкратова, Т.В. Никольская, Е.В. Калинина, Р.П. Бабак, А.Е. Козюков «Комплекс мероприятий по подготовке образцов ЭКБ для проведения испытаний на стойкость к воздействию тяжелых заряженных частиц»

- П.А. Зимин1,2, В.А. Юшкова1, Е.В. Мрозовская1, Г.И. Зебрев2 «Эффект логарифмического отжига в МОПТ»

1Филиал АО «ОРКК» - «НИИ КП»

2НИЯУ МИФИ)

- Е.В. Булаев, Е.В. Мрозовская, П.А. Чубунов, Г.А. Протопопов «Практическое применение метода оценки ЛПЭ – спектра по данным SEE-мониторов на основе СОЗУ»

- Т.А. Максименко, Н.В. Бондаренко, А.Е. Козюков, С.А. Яковлев, П.Э. Куркова, В.С. Федосов «Методы контроля радиационной стойкости оптопар при воздействии ТЗЧ»

- Л.Р. Бакиров, С.Л. Воробьев, О.А. Бахирко «Особенности проведения испытаний микросхем памяти  NOR - flash типа на стойкость к воздействию ТЗЧ»

- Л.Р. Бакиров, С.Л. Воробьев, О.А. Бахирко «Многократные сбои при воздействии ТЗЧ в микросхеме серии CY7C1041D»

- А.А. Кляйн, Л.Р. Арутюнян, Н.Ю. Захаренкова, А.С. Бычков, В.А. Ковтун «Оптимизация использования ускорительного времени при испытаниях на стойкость к воздействию ТЗЧ»

- Л.Р. Бакиров, С.Л. Воробьев, О.А. Бахирко, П.А. Чубунов «Изменения характеристик супервизоров напряжения в процессе и после воздействия ТЗЧ»

- Т.А. Максименко1, М.Ю. Выростков1, К.Б. Бу-Хасан1, А.А. Скиданов2 «Результаты испытаний стабилизаторов напряжений серии 5316 на стойкость к воздействию ТЗЧ»

1Филиал АО «ОРКК» - «НИИ КП»

2 АО «ВЗПП-Микрон»

- С.В. Колпачков, Т.С. Наполова, И.С. Масленникова, В.В. Лыков, С.А. Яковлев, А.Е. Козюков, П.А. Чубунов, А.А. Батин «Особенности проведения испытаний различных цифро- аналоговых микросхем на стойкость к одиночным радиационным эффектам»

- И.С. Масленникова, С.В. Колпачков, А.А. Батин, В.В. Лыков, С.А. Яковлев, А.Е. Козюков «Результаты испытаний цифро-аналоговых преобразователей на стойкость к воздействию ТЗЧ»

- И.С. Масленникова, С.В. Колпачков, А.А. Батин, В.В. Лыков, С.А. Яковлев, А.Е. Козюков «Результаты испытаний аналого-цифровых преобразователей на стойкость к воздействию ТЗЧ»

- В.В. Лыков, И.С. Масленникова, Т.С. Наполова, С.А. Яковлев, А.Е. Козюков «Результаты испытаний синтезаторов частот на стойкость к воздействию ТЗЧ»



 

kosrad.ru
All Rights Reserved 2011
Contact
Reference
Sitemap
Media