|
|
С 29 по 31 мая 2019 года в Китае прошла международная конференция ICREED (International Conference on Radiation Effects of Electronic Devices). На данном мероприятии сотрудники филиала АО "ОРКК" - "НИИ КП" представили стендовый доклад:
A.E. Koziukov, V.S. Anashin, T.A. Maksimenko, S.A. Yakovlev "SEE Radiation Hardness Assurance of Power Devices"
С 19 по 24 мая 2019 года в городе Мельбурн (Австралия) прошла международная конференция по ускорителям частиц (
International Particle Accelerator Conference (IPAC)). На данной конференции был представлен стендовый доклад сотрудников филиала АО "ОРКК" - "НИИ КП" в соавторстве на тему
"Modern Heavy Ion Based Test Facilities for Spacecrafts Electronics Qualification" - V.S. Anashin1, P.A. Chubunov1, S.V. Mitrofanov2, V.A. Skuratov2, I.V. Kalagin2
1Branch of JSC "United Rocket and Space Corporation» -«Institute of Space Device Engineering"
2Joint Institute for Nuclear Research
С 13 по 16 мая 2019 года в городе Дубна (Московская область) прошла Международная рабочая группа RAD-TEST 2019. На данном мероприятии сотрудники филиала АО "ОРКК" - "НИИ КП" представили следующие доклады:
Устные доклады:
- A.E. Koziukov "Electronic Components Heavy Ion SEE Testing"
- G.A. Protopopov "Issues of in-flight radiation test results interpretation for electronic devices and equipment"
- A.O. Volkov "Electronic component samples preparation for SEE radiation testing"
- T.A. Maksimenko "Optocoupler SEE Testing procedure"
- A.A. Kalashnikova "Analysis of Bipolar OpAmp Destructive Failures under Heavy Ions Irradiation"
- S.A. Iakovlev "Dependence on Ion LETs of SEE Sensitivity of Electronics at Different Bragg Peaks"
Постерные доклады:
- V.V. Lykov "SEE Test Features of Different Digital-Analog ICs"
- E.V. Mrozovskaia "Methods of proton and heavy ion test results interpretation"
- O.A. Bakhirko "Variations in Voltage Supervisors Characteristics During and After Exposure to Heavy Ion Radiation"
- L.R. Arutyunian "Enhancing the Efficiency of the Beam Time Management during SEE Testing"
С 17 по 19 апреля 2019 года в городе Санкт-Петербург прошла 19-я международная научно – техническая конференция "Пути решения задач обеспечения современной радиоэлектронной аппаратуры надежной электронной компонентной базой" (Сертификация ЭКБ). На данном мероприятии сотрудники филиала АО "ОРКК" - "НИИ КП" представели доклады:
В.С. Анашин, А.Е. Козюков, П.А. Чубунов, Г.А. Протопопов "Вопросы продвижения стойкости ЭКБ к воздействию ИИ КП"
Р.П. Бабак, А.Е. Козюков, П.А. Чубунов "Практические аспекты достоверной идентификации и гарантированной декапсуляции"
А.С. Бычков "Особенности проведения испытаний ЭКБ на стойкость к воздействию ТЗЧ в условиях модернизации ускорителей"
