АО «НИИ КП» приняли участие во Всероссийской научно-технической конференции «Радиационная стойкость электронных систем» («СТОЙКОСТЬ – 2025»), которая проходила с 03 по 04 июня 2025 года в г. Москве.
Всероссийская научно-техническая конференция («СТОЙКОСТЬ – 2025» ежегодно организуется АО «НИИП» и является крупнейшей в области радиационной стойкости.
Участие в данном мероприятии позволило подтвердить статус одной из ведущих научных организаций в России в области радиационной стойкости путем представления докладов:
— Дозовые ионизационные эффекты в МОП приборах при различных интенсивностях облучения в широком диапазоне температур (Бакеренков А.С., Чубунов П.А., Скоркин И.В.)
— Направления модернизации автоматизированных систем из состава (Чубунов П.А., Бакеренков А.С., Стародубцов Г.В.,
Юдин В.В., Тверитнева О.А., Мельник Е.М.)
— Развитие наземного сегмента отраслевой системы мониторинга воздействия ионизирующих излучений космического пространства на радиоэлектронную аппаратуру космических аппаратов (Протопопов Г.А., Задорожный К.Д., Чубунов П.А., Тужикова И.А., Задорожко Д.Н.)
— Бортовая система оперативной оценки дозовой нагрузки на основе p-канальных МОП-транзисторов (Фелицын В.А., Бакеренков А.С., Чубунов П.А.)
— Проектирование устройства уменьшения энергии ионов для испытаний ЭКБ на стойкость к воздействию ТЗЧ
(Бакеренков А.С., Чубунов П.А.)
— Программная автоматизация подсчета пор в трековых детекторах на основе полимерных пленок (Бакеренков А.С.,
Чубунов П.А., Юдин В.В.,)
— Бортовая система регистрации характеристик ТЗЧ (Фелицын В.А., Бакеренков А.С., Чубунов П.А.)
— Бортовая система оперативной оценки дозовой нагрузки на основе p-канальных МОП-транзисторов (Фелицын В.А., Бакеренков А.С., Чубунов П.А.)
— Оптимизация технологии определения флюенса ТЗЧ с использованием полимерных трековых детекторов (Стародубцов Г.В, Бакеренков А.С.,
Чубунов П.А.)
— Автоматизированная система позиционирования объекта испытаний при воздействии ТЗЧ (Тверитнева О.А.,
Бакеренков А.С., Чубунов П.А.)
— Автоматизированная система задания энергии ТЗЧ на основе набора дегрейдеров (Мельник Е.М., Бакеренков А.С.,
Чубунов П.А.)
— Зависимость результатов испытаний на стойкость к ТЗЧ от накопленной дозы для n-канального МОП транзистора (Вавичкин Н.А., Мальцева М.С., Бондаренко Н.В.)
— Оптимизация временных затрат на отработку схем защиты от тиристорного эффекта с использованием лазерного воздействия (Безруков Н.О., Шамсутдинов Б.К., Цветков А.И., Лыков В.В.)