АО «НИИ КП» приняли участие VI Международной конференции по радиационным эффектам в электронных приборах
(«6-th International Conference on Radiation Effects of Electronic Devices» — ICREED-2025), которая проходила с 16 по 18 апреля 2025 года в г. Янчжоу (КНР).
Данная конференция организуется китайским научным сообществом в области радиационной физики, китайским институтом электроники и китайским обществом астронавтики, является одной из крупнейших мировых площадок для общения ведущих специалистов мирового уровня в области радиационной стойкости электронных приборов и систем, а также для представления заинтересованным лицам информации по элементной базе производства КНР повышенного уровня качества.
На данной конференции были представлены доклады:
— «TID Response of MOS Devices at Low Dose Rate in Wide Temperature Range» (Бакеренков А.С., Фелицын В.А., Чубунов П.А., Скоркин И. В)
— «Temperature Control Equipment for SEE and TID Tests» (Бакеренков А.С., Фелицын В.А.,Чубунов П.А., Скоркин И.В.)