ru-ru

RAD-TEST 2019

С 13 по 16 мая 2019 года в городе Дубна (Московская область) прошла Международная рабочая группа RAD-TEST 2019. На данном мероприятии сотрудники филиала АО "ОРКК" - "НИИ КП" представили следующие доклады:

Устные доклады:

- A.E. Koziukov "Electronic Components Heavy Ion SEE Testing"

- G.A. Protopopov "Issues of in-flight radiation test results interpretation for electronic devices and equipment"

- A.O. Volkov "Electronic component samples preparation for SEE radiation testing"

- T.A. Maksimenko "Optocoupler SEE Testing procedure"

- A.A. Kalashnikova "Analysis of Bipolar OpAmp Destructive Failures under Heavy Ions Irradiation"

- S.A. Iakovlev "Dependence on Ion LETs of SEE Sensitivity of Electronics at Different Bragg Peaks"


Постерные доклады:

- V.V. Lykov "SEE Test Features of Different Digital-Analog ICs"

- E.V. Mrozovskaia "Methods of proton and heavy ion test results interpretation"

- O.A. Bakhirko "Variations in Voltage Supervisors Characteristics During and After Exposure to Heavy Ion Radiation"

- L.R. Arutyunian "Enhancing the Efficiency of the Beam Time Management during SEE Testing"



Сертификация ЭКБ 2019

С 17 по 19 апреля 2019 года в городе Санкт-Петербург прошла 19-я международная научно – техническая конференция "Пути решения задач обеспечения современной радиоэлектронной аппаратуры надежной электронной компонентной базой" (Сертификация ЭКБ). На данном мероприятии сотрудники филиала АО "ОРКК" - "НИИ КП" представели доклады:

В.С. Анашин, А.Е. Козюков, П.А. Чубунов, Г.А. Протопопов "Вопросы продвижения стойкости ЭКБ к воздействию ИИ КП"

Р.П. Бабак, А.Е. Козюков, П.А. Чубунов "Практические аспекты достоверной идентификации и гарантированной декапсуляции"

А.С. Бычков "Особенности проведения испытаний ЭКБ на стойкость к воздействию ТЗЧ в условиях модернизации ускорителей"

Конференция по вопросам создания ЭКБ специального назначения "Спецстойкая микроэлектроника-2019"

С 10 по 11 апреля 2019 года в поселке Желнино (Нижегородская область) конференция по вопросам создания ЭКБ специального назначения "Спецстойкая микроэлектроника-2019", организованная ФГУП "ФНПЦ НИИИС им. Ю.Е. Седакова". На данном мероприятии начальник отдела филиала АО "ОРКК" - "НИИ КП" Александр Евгеньевич Козюков представил доклад на тему "Развитие испытательной базы и технологических стендов для контроля стойкости ЭКБ к воздействию специальных факторов, как средство повышения достоверности испытаний и снижения их цены" (А.Е. Козюков, В.С. Анашин, А.С. Бычков, Р.П. Бабак, Т.А. Максименко).

53-я Зимняя школа ПИЯФ НИЦ "Курчатовский Институт"

Со 2 по 7 марта 2019 года в городе Рощино (Ленинградская область) 53-я зимняя школа ПИЯФ НИЦ "Курчатовсий Институт". На данном мероприятии был представлен доклад сотрудников филиала АО "ОРКК" - "НИИ КП" на тему "Испытательные средства филиала АО "ОРКК" – "НИИ КП" и тенденция их развития" (А.С. Бычков, В.Н. Сурнин).

kosrad.ru
Все права защищены 2011 г.
Контакты
Справочная информация
Карта сайта
Медиа